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V.S.M. Technologies Co.,Ltd.
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面
电 阻 仪 图 列 |
用
途 和 性 能 |
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手持式四探针面电阻测量仪
用途：用于薄膜，玻璃，纸张，塑料等导电表面测量
功能：多种单位显示
面电阻Ω/sq；siemens/sq；
光学密度；膜厚(nm)；
可储存500个测量值；
RS232串口可直接与PC交换数据
附件：测量头SDKR-1.3 or SDKR-2.5
测量范围：0-20 ohm to 0-200k ohm
尺寸：146*92MM |
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四探针面电阻电阻仪
用途：用于薄膜，玻璃，纸张，塑料等导电表面测量
功能：测量范围更宽，测量精度更高。通常用于产品质量检测，实验室以及校正补偿式其它更高要求。
附件：测量头SDKR-1.3 (测量点φ8mm)or SDKR-2.5(测量点φ4mm)
测量范围：0-0.1 ohm to 0-100k ohm
校正补偿盒E-500(补偿点：0 ohm/sq or 10 ohm/sq)
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非接触手持式高频面电阻测量仪
用途：用于薄膜，玻璃，纸张，塑料以及氧化物，油漆，其它不便接触物表面。
功能：多种单位显示
面电阻Ω/sq；siemens/sq；
光学密度；膜厚(nm)；
可储存500个测量值；
RS232串口可直接与PC交换数据
测量范围：0.5-50 Ohm
尺寸：146*92MM
补偿校正工具：选项(校正膜) |
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